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Double Tilt Single Tilt Cooling

JEOL2100 + Cs-corrector
機台規格及特色 作品成果
本台TEM為200KV Field Emission Gun + Cs-corrector 包含了XEDS，EELS以及STEM功能，最主要特色在於加裝了球象差修正儀後擁有極高的空間解析度 Spatial (Probe) Resolution≦0.09nm, 完成多項STEM-EELS, STEM-XEDS, chemical-mapping的研究       
Double Tilt Single Tilt Cooling Tomography Rotation

Tecnai-G2-F20
機台規格及特色 作品成果
本台TEM為200KV Field Emission Gun + Monochromator, 包含了XEDS，EELS以及STEM功能，其最主要特色在於擁有極高的能量解析度Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS) (< 0.2 eV) STEM Resolution (< 0.20 nm) Information Limit (< 0.15 nm).            
Double Tilt Cooling Heating

JEOL-2000
機台規格及特色 作品成果
本台TEM為傳統200KV， 機台設計擁有較高的旋轉角度在晶體學研究上有極大幫助,雖然犧牲掉解析度,擁有高對比有利於觀察domain structure, Tilt angle: (X-axis) ± 45°; (Y-axis) ± 30°,並配有升降溫 holder，有利進行溫度相變之研究
High-Ｔ (maximum Temp.: 1300K)
Low-Ｔ (minimum Temp.: 液態氦) 		https://firebasestorage.googleapis.com/v0/b/stem-introduction.appspot.com/o/DF3.jpg?alt=media&token=d4d03801-d944-4ffe-82a9-5e64c144ebb0  https://firebasestorage.googleapis.com/v0/b/stem-introduction.appspot.com/o/PRL.gif?alt=media&token=e30dd56a-38d0-4ed8-bee5-2ea298c7cb88
Double Tilt Single Tilt Cooling Tomography Rotation

Tecnai-G2-F20 LaB6
機台規格及特色 作品成果
本設備為燈絲式TEM，使用LaB6，可設定120 KV或200 KV，適合生物樣本觀測，無STEM、DF與其他分析設備僅影像觀測功能。Magnification mode: 25~700 K; Resolution: 0.27nm;極高的旋轉角度: Maximum tilt angle with double-tilt holder ±70°.

（和Tecnai-B 可共用holder）		       
D8 Advance
機台規格及特色 作品成果
適用於分析金屬、陶瓷、半導體、生醫、高分子等材料。藉由材料的晶體結構資訊加以探討材料性質變化，為即時且兼具非破壞性檢測之分析設備，提供一般繞射分析(晶相鑑定，結構解析)。   
D8 Discover
機台規格及特色 作品成果
適用於分析金屬、陶瓷、半導體、生醫、高分子等材料。藉由材料的晶體結構資訊加以探討材料性質變化，為即時且兼具非破壞性檢測之分析設備，提供一般繞射分析(晶相鑑定，結構解析)、高解析薄膜繞射分析(薄膜結構，組成及厚度)等各式材料研究之全方位分析。